ジャスコインタナショナル

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自動粒子解析SEM
Phenom ParticleX ウェビナーシリーズ (全6回)

自動粒子解析SEM Phenom ParticleXは、粒子や異物の検出から、解析、分類、レポートの作成までを全自動で行うシステムです。本ウェビナーシリーズでは、全6回に渡って様々な分野やアプリケーションにおけるPhenom ParticleXの自動化のアプローチをご紹介します。


第1弾 自動車
自動車部品の清浄度検査
2月16日(水)16:00 – 17:00





第2弾 リチウムイオン電池
リチウムイオン電池材料の品質管理
3月02日(水)16:00 – 17:00





第3弾 射撃残渣(GSR)
射撃残渣(GSR)分析の効率化
3月23日(水)16:00 – 17:00





第4弾 エレクトロニクス
電子機器部品の清浄度検査
3月30日(水)16:00 – 17:00





第5弾 鉄鋼
鉄鋼の自動介在物評価
4月06日(水)16:00 – 17:00





第6弾 アディティブマニュファクチャリング
材料粉末の品質管理
4月13日(水)16:00 – 17:00



講演者
ジャスコインタナショナル株式会社 第二事業部

和田 祥子

圓山 大貴

鈴木 重雄

江口 錦ノ介
関連製品
卓上走査型電子顕微鏡(卓上SEM)Phenom ParticleX
(サーモフィッシャーサイエンティフィック社製)


参加費
無料(事前登録が必要となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法
以下のリンクからお申し込みください。
お申し込み

ウェビナーお申し込みやご参加の手順は、下のPDFをご参照ください。
手順

※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能がありますので、始めて利用されるお客様は以下より事前にテストすることをお勧めします。
https://zoom.us/test

※ 競合製品取り扱い企業様のご参加はご遠慮いただいております。予めご了承ください。

お問合せ
ジャスコインタナショナル株式会社
第二事業部
dss2@jascoint.co.jp

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