ジャスコインタナショナル

 最先端の研究に世界標準で応えます。

自動粒子解析SEM
Phenom ParticleX ウェビナーシリーズ (全6回)

2022年3月30日(水)に行われた卓上型SEMウェビナーの概要紹介です。
 下のリンクからウェビナーの録画を視聴できます。

第4弾 エレクトロニクス
電子機器部品の清浄度検査
ウェビナー概要
プリント基板 (PCB) は複雑で精緻な部品であり、ハイクラスなクリーンルームで作業しても微小な異物が混入する恐れがあります。製品の品質を維持するためには、異物を特定し、混入の原因を究明しなければなりません。

このウェビナーでは、エレクトロニクスにおける異物分析の自動化手法をご紹介します。

1.電子機器部品の清浄度検査における課題と解決方法
2.SEM + EDS分析での微小粒子の自動測定
3.分析結果の解析方法

本ウェビナーは、2021年11月3日に開催されたサーモフィッシャーサイエンティフィック社によるウェビナーの日本語版です。


講演者
圓山 大貴
ジャスコインタナショナル株式会社 
第二事業部 応用技術課
関連製品
卓上走査型電子顕微鏡(卓上SEM)Phenom ParticleX
(サーモフィッシャーサイエンティフィック社製)

録画の視聴
下のリンクから動画を視聴できます。
お客様情報の入力後に、入力いただきましたメールアドレスに
ウェビナー録画の視聴ページのURLをお送りいたします。


※ 競合製品取り扱い企業様の視聴はご遠慮いただいております。予めご了承ください。

お問合せ
ジャスコインタナショナル株式会社
第二事業部
dss2@jascoint.co.jp

ページのトップへ戻る