<イベント・学会情報>
- 日 時:
- 2013年7月10日(水) - 12日(金)
- 会 場:
- 東京ビッグサイト
- 出展ゾーン:
- ラボ用測定・分析ゾーン
- 小間番号:
- 20-4
■ 配信周期： 不定期
■ メール形式： テキスト形式
■ メール形式： テキスト形式
お知らせ:
- 名古屋サービスセンターを開設いたしました
- 卓上走査型電子顕微鏡(卓上SEM)取扱い開始のご案内
- 大阪サービスセンターを中央区谷町に移転いたしました
- JASIS2012多数のご来場まことにありがとうございました。
日本分光グループ ブース内 小セミナーでご紹介した内容をダイジェストにて公開いたします - 東京サービスセンター、つくばサービスセンター、九州サービスセンターを開設いたしました
- 画像解析粒度分布計の取扱いを開始しました
- AutoSpecを用いた "直接希釈による絶縁油中微量PCBのGC/HRMSによる簡易分析法"
製品情報更新:
- 元素分析・同位体分析
- 元素分析装置
- 安定同位体比質量分析装置
- 表面電離型質量分析装置
- ガス分析装置
- 物性分析・物性試験
- 接触角・濡れ性
- 耐候性試験
- ISO準拠試験片製造用金型
- GC-MS
- 二重収束GC-MS
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