N70 / N80 / NXL 対応

複数のサンプルの連続スキャンおよび高スループット解析を可能にします。

N70/N80：24ポジション　NXL：16ポジション

• スキャンを止めずにサンプルの追加や交換が可能
• サンプルごとにスキャン条件を設定可能
• サンプルに応じて最適倍率やX線源条件を自動調整

N70 / N80 / N90 / NXL 対応

ステージの温度を制御した状態でスキャンが可能です。

• 冷却および加熱の両機能を搭載
• スキャン中もサンプル温度を維持
• 最低温度：周囲温度から-40 ℃
• 最高温度：120 ℃

N70 / N80 / N90 / NXL 対応

荷重下における内部構造変化をとらえるin situスキャンに対応します。

• 荷重速度調整範囲：0.3～3.3 mm/min
• 最大圧縮荷重：+1000 N
• 最大引張荷重：-1000 N
• 変位ストローク：>10 mm

N90対応

N90に統合されたマイクロXRFシステムは、サンプル表面の元素分布を検出し、3Dレンダリング像と相関させることで3D元素マップを取得できます。

• マイクロXRFモジュールはN90本体およびソフトウェアに完全統合
• 50 kV / 50 W X線源 2基によるXRF励起
• XRF検出器のピンホール光学系により、あらゆる形状のサンプルをマッピング可能
• 4 MP 検出器が元素固有の蛍光X線を高精度にエネルギー解析

全モデル対応

3D NeoSpace Stationは、リアルタイム3D表示によってまるで目の前に実物が浮かび上がるような圧倒的な没入感を提供します。視線追跡技術により、ユーザーの視線に合わせて3D表示が変化し、無限の奥行きを持つ空間を再現します。

• サンプル内部の微細構造を様々な角度から直感的に操作可能
• オブジェクト操作、スライス、3D動画作成にも対応
• 裸眼のまま自然な3Dオブジェクトを表示