粒子径評価の根拠が明確

レーザー回折・散乱法や沈降法を用いた粒度分布測定では、粒子を真球と仮定して粒子径を算出します。しかし、実際には粒子の形状は多様であるため、正確な粒子径の評価は困難です。画像解析法は、粒子の投影像から直接サイズを数値化するため、粒子径評価の根拠が明確です。

形状の評価

画像解析法では、投影画像から粒子に関する情報を取得します。粒子画像から、単粒子と凝集体の判別や、異物の有無を視覚的に確認できます。

測定の流れ

投影画像取得、粒子の抽出、サイズ・形状パラメータの計測、統計処理、結果表示・保存を繰り返すことにより粒度分布を得ることができます。

テレセントリックレンズとCMOSカメラを採用しています。テレセントリックレンズは被写界深度（ピントが合う範囲）が深く、カメラからの距離による寸法の変化が生じないため、サイズ計測に最適なレンズです。また、高解像度カメラと計算された光学設計により、可視領域における光の回折限界に迫る分解能を目指しました。

青色コリメート（平行）光源を採用することで像の収差を抑え、粒子像を鮮明に投影できます。高精度な画像解析や粒子評価に最適な環境を提供します。

豊富なパラメータ

多数のサイズ・形状パラメータでの解析に対応しており、全粒子の全サイズ・形状パラメータを出力することができます。円形度、凹凸度、アスペクト比などの形状情報を用いて、より詳細なサンプル評価が行えます。

データ表示

ヒストグラムや積算曲線、ボックスプロット、二次元散布図などを用いて、サンプル間の違いを簡単に比較できます。また、検出した粒子画像を一覧で表示できます。

・中央値（メジアン径、D50）
　累積分布の中央の値

・平均値
　算術平均や加重平均により、
　算出された値

・モード径
　頻度が最も高い値

・任意のパーセンタイルにおけ
　る値（D10、D90など）