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卓上走査型電子顕微鏡(卓上SEM)

Phenom
卓上走査型電子顕微鏡

アメリカ:サーモフィッシャーサイエンティフィック社

To the Absolute

もっと美しく、もっと速く、もっと多才に
「見る」、「操る」、「測る」を極めた究極の卓上SEMが、生まれ変わりました。
CeB6の高画質画像をもっと美しく、もっと速く得られるように。
そして、もっと多才に解析できるように。
豊富なラインナップであらゆる「もっと」に応えます。

ラインナップ

Phenom ProX/Pro

究極のスタンダードモデル

  • 高輝度・長寿命のCeB6電子銃搭載
  • 分解能
    ProX / Pro:反射電子 8 nm / 二次電子 6 nm (オプション)
  • 簡単、スピーディに観察・分析が可能

Phenom XL

大きな試料室で多才なモデル

  • 高輝度・長寿命のCeB6電子銃搭載
  • 分解能 反射電子 9 nm / 二次電子 9 nm (オプション)
  • 多検体の自動測定や傾斜・回転、その場観察

Phenom ParticleX

全自動粒子解析モデル

  • 高輝度・長寿命のCeB6電子銃搭載
  • 分解能 反射電子 9 nm / 二次電子 9 nm (オプション)
  • 清浄度検査、異物検査、鉄鋼中の介在物検査など品質管理

Phenom Pharos

FE電子銃搭載、卓上SEM最高峰モデル

  • ショットキー型FE電子銃搭載
  • 分解能 反射電子 3 nm / 二次電子 2 nm (オプション)
  • 限られたスペースで、スピーディに高分解能観察が可能

カタログ

【リーフレット】
卓上走査型電子顕微鏡 Phenom ProX
Desktop SEM アメリカ サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
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【リーフレット】
卓上走査型電子顕微鏡 Phenom XL
Desktop SEM アメリカ サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
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【リーフレット】
卓上自動粒子解析SEM/EDS Phenom ParticleX
Desktop SEM アメリカ サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
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【リーフレット】
卓上走査型電子顕微鏡 Phenom Pharos
Desktop SEM アメリカ サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
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