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画像解析ソフトウェア

Phenom 卓上SEM
画像解析ソフトウェア

数値で評価したい!を叶えます。
CeB6だから、サブミクロンレベルの粒子や繊維の解析が可能です。

粒子解析

パーティクルメトリック(粒子解析モード)

100枚の画像を5分で自動解析

  • 粒子のサイズ、形状を測定
  • ヒストグラム、スキャッタプロットで表示

粒子サイズ:100 nm ~ 100 µm
粒子検出速度:最大1,000粒子/分

試料:電池正極材(NCM)
粒子径と形状のスキャッタプロット

細孔解析

パーティクルメトリック(細孔解析モード)

直感的な操作で孔を解析

  • 孔のサイズ、形状を測定
  • 孔のサイズをヒストグラムで表示

細孔サイズ:100 nm ~ 100 µm
細孔検出速度:最大1,000粒子/分

試料:ポリオレフィンセパレーター
細孔径のヒストグラム

繊維解析

ファイバーメトリック(繊維径)

1,000か所を5分で自動計測

  • 繊維径を計測
  • 結果をヒストグラムで表示
  • 繊維の配向も測定

繊維径:50 nm~50 μm
測定数:最大1000箇所/画像

試料:不織布
配向のヒストグラム

3D粗さ計測

3Dラフネス(3D画像の構築、粗さ計測)

表面形状を可視化、数値化

  • 3次元画像の構築
  • 線粗さ・面粗さの簡易計測
  • 二点間の断面プロファイルの表示
試料:ソーラーセル
粗さ計測中の画面

アプリケーションノート

ウェビナー情報

カタログ

【リーフレット】
卓上走査型電子顕微鏡 Phenom ProX
Desktop SEM アメリカ サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
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【リーフレット】
卓上走査型電子顕微鏡 Phenom XL
Desktop SEM アメリカ サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
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【リーフレット】
卓上自動粒子解析SEM/EDS Phenom ParticleX
Desktop SEM アメリカ サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
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【リーフレット】
卓上走査型電子顕微鏡 Phenom Pharos
Desktop SEM アメリカ サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
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