Phenom Pharos

アメリカ:サーモフィッシャーサイエンティフィック社
FE電子銃搭載、卓上SEM最高峰モデル
もっと見たい。
画質へのこだわりから誕生した世界初卓上FE-SEM。
限られた環境で、スピードと高分解能が
必要とされるアプリケーションに。

特徴

FE電子銃で、ナノの世界へ
FE電子銃でさらに美しく
30秒で、分解能 < 2 nm
フロアモデルに迫る高分解能を、卓上SEMで実現しました。
試料導入からSEM像表示まで、僅か30秒。高画質観察を圧倒的スピード、簡単操作で実現します。

275,000倍、20 kv、二次電子

48,000倍、5 kv、反射電子
ナノ~サブミクロンレベルの解析を実現
観察だけでなく、”観察+α” で一歩先の解析まで行うことが可能です。
微細粒子や繊維の解析が迅速に行えます。
パーティクルメトリックによる金粒子の解析例

ファイバーメトリックによる銀ナノロッドの解析例

世界初 卓上FE-SEMによる走査透過電子顕微鏡観察(STEMホルダ)

電界放出型電子銃(FEG)を搭載した Phenom Pharos卓上FE-SEM専用の
STEMホルダで、世界初の卓上による走査透過電子顕微鏡観察を可能にしま
す。
低電圧で高コントラストを実現し、微細構造や形態の高分解能観察が可能で
す。 様々な材料に対応し、広範囲を低倍率から高倍率に変えて観察を行うこと
ができるため、サンプルのスクリーニングや結果の取得を迅速に行うことが可
能です。

STEMの透過像では、カーボンナノチューブの核生成サイトが確認できます。


革新的なユーザーインターフェースで、もっと速く、もっとスマートに
ユーザーインターフェースが新しく生まれ変わりました。
試料導入から僅か30秒でSEM像を表示、そのままバリアフリーで分析へ。
ナビゲーションシステムで 「迷わない」
観察位置を常に確認でき、迷いません。
自動ステージで 「瞬時に移動」
画面をワンクリックするだけで次の観察位置へ移動できます。
リビジット機能で 「すぐ戻れる」
気になる場所を登録、戻って再観察、再分析が可能です。

測定の流れ


完全融合 SEM×EDS
シームレスにリアルタイム分析
ChemiSEM ‐ Liveで「定量EDS & 高速マッピング」
ワンクリックでライブ定量EDSマッピング、3秒で元素の分布を表示します。
気になる箇所の組成と定量値を確認することができ、異物や関心領域の特定に役立ちます。

点分析、ライン分析、マッピング

自動で定性・定量分析
スペクトルから自動でピークを検出し、定性分析、定量分析を行うことができます。ピークが重なる元素も自動で分離します。
直感操作でレポート作成まで
分析の経験に関係なく、解析からレポート作成までを簡単に行うことができます。
加速電圧20 kVに対応
15 kVに加え、より高加速電圧が必要な分析にも対応します。スペクトルは、鉛(Pb)を15 kVと20 kVで分析した例です。

結果の酸化物換算表示
検出された元素を酸化物に換算して表示することができます。

スペクトルの重ね合わせ・差スペクトルの表示
複数のスペクトルを重ね合わせて表示し、比較することができます。また、差スペクトルを表示することができます。

ChemiPhase 多変量解析による『相分析』
多変量解析により相(主成分)を自動抽出し、相マップ(主成分マップ)を表示します。複数の成分で構成される材料も、自動で相分離することができます。
- SEM像や元素マッピングでは判断できない成分(化合物)を識別
- 分析領域全体の積算スペクトルではピークの確認が困難な微量成分を識別可能

観察+α、解析ソフトウェア
数値で評価したい!を叶えます。サブミクロンレベルの粒子や繊維の解析が可能です。
- 粒子解析
- 細孔解析
- 繊維径
- 3D画像の構築、粗さ計測
- 自動画像マッピング






仕様
| Phenom Pharos | ||
| 電子銃 | ショットキー型FE電子銃 | |
| 分解能 | 反射電子 | 3 nm(加速電圧:20 kV) |
| 二次電子(オプション) | 2 nm(加速電圧:20 kV)、10 nm(加速電圧:3 kV) | |
| 光学ナビゲーション倍率 | 27 ~ 160 倍(カラー) | |
| 電子顕微鏡倍率 | 最大 2,000,000 倍 | |
| デジタルズーム | 12 倍 | |
| 加速電圧 | 5 kV、10 kV、15 kV(アドバンスモード:1 kV ~ 20 kV) | |
| 反射電子検出器 | 標準 | |
| 二次電子検出器 | オプション | |
| EDS元素分析 | オプション | |
| 画像保存形式 | JPEG、 TIFF、 PNG | |
| 自動ステージ | コンピュータ制御モーター駆動 XY ステージ | |
| 試料サイズ | 直径 : 25 mm (オプション : 32 mm)、 高さ : 35 mm (オプション : 100 mm) | |
| 寸法、重量 | 顕微鏡本体 | 360(W) × 580(D) × 590(H)mm、 75 kg |
| 真空ポンプ | 145(W) × 220(D) × 213(H)mm、 4.5 kg | |
| 電源ボックス | 230(W) × 255(D) × 75(H)mm、 4.3 kg、 (UPS使用 寸法:530(W) × 210(D) × 500(H)mm、 25.2 kg) | |
| PC | 92.5(W) × 305.6(D) × 343.5(H)mm、 8 kg | |
| モニタ | 531.5(W) × 250(D) × 515.4(H)mm、 6.7 kg | |
| 電源 | 単相 AC 100 V、 50 / 60 Hz、 最大 378 W | |
| 解析 ソフト ウェア | 標準 | 自動画像マッピング |
| オプション | パーティクルメトリックソフトウェア(粒子解析、細孔解析)、 ファイバーメトリックソフトウェア(繊維解析)、 3Dラフネスソフトウェア(3D画像の構築、粗さ計測) | |
観察例
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チタン-マグネシウム複合処理鋼の介在物分析
APPLICATION NOTE
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鋼材の自動介在物解析・清浄度解析
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