卓上走査型電子顕微鏡
卓上走査型電子顕微鏡
全自動粒子解析が可能な「粒子を測る」ためのシステムです。
清浄度検査や異物解析、粒子材料の品質評価を短時間で行えます。
通常のSEMとして多彩な観察・解析にも対応します。

卓上走査型電子顕微鏡

ParticleX 紹介ムービー (概要の説明)


用途に応じて5つのモデル


Phenom ParticleX TC
自動清浄度検査
Technical Cleanliness

数千個の異物粒子を解析し、
サイズ・形状 情報、化学情報を
取得します。製造部品の
清浄度検査や製造工程における
異物源の 特定が短時間で
簡単に行えます。
 

Phenom ParticleX Battery
電池材料の品質管理
Battery

電池の製造工程や材料中に混入した異物、
なかでも導電性の異物はショート の
原因となります。異物粒子のサイズ、
形状、化学組成情報を取得し、
異物源の特定や電池材料の品質管理を
短時間で行えます。

Phenom ParticleX AM
粒子材料の特性評価
Additive Manufacturing

アディティブマニュファク
チャリングでは、造形品の品質を
維持するために原料粉末の
検査が必要です。粒子の均一性や
異形粒子の確認など、
粒子材料の品質管理を
短時間で行えます。

Phenom ParticleX Steel
鉄鋼中の介在物の評価
Steel

鋼材中の介在物は、靭性、
成形性、被削性といった
鋼材の機械的特性に
大きな影響を与えます。
介在物のサイズ・形状情報、
組成情報を短時間で
得ることができ、品質管理や
製造工程の管理に役立ちます。

Phenom Perception GSR
射撃残渣の自動分析
Gun Shot Residue

射撃残渣(GSR)の自動分析に
特化したシステムです。
GSR粒子の特定・分類、
結果の検証、レポート作成を
行うことができます。
 
 





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