卓上走査型電子顕微鏡
卓上走査型電子顕微鏡
もっと見たい。
画質へのこだわりから誕生した世界初卓上FE-SEM。
限られた環境で、スピードと高分解能が
必要とされるアプリケーションに。


卓上走査型電子顕微鏡
  卓上走査型電子顕微鏡
卓上走査型電子顕微鏡

Phenom Pharos 主な仕様

FE電子銃で超高画質を実現

 
  • 最高倍率: 2,000,000倍
  • 光学ナビゲーション
    (カラー、27 〜 160倍)
  • 元素分析: オプション
  • FE電子銃による超高画質観察
  • 二次電子: オプション



STEMホルダ (Phenom Pharos専用)

世界初 卓上FE-SEMによる走査透過電子顕微鏡観察

電界放出型電子銃(FEG)を搭載した Phenom Pharos卓上FE-SEM専用のSTEMホルダで、世界初の卓上による走査透過電子顕微鏡観察を可能にします。

低電圧で高コントラストを実現し、微細構造や形態の高分解能観察が可能です。 様々な材料に対応し、広範囲を低倍率から高倍率に変えて観察を行うことができるため、サンプルのスクリーニングや結果の取得を迅速に行うことが可能です。
カーボンナノチューブのSTEM像
カーボンナノチューブのSTEM像(上)とSED像(下)。
STEM像では粒子の存在が確認できます。

タバコモザイクウイルスのSTEM像
タバコモザイクウイルスを4種類のイメージングモードで観察した例。
BF像ではウイルスが明確に確認でき、DF像ではリポイドが明確に観察できます。





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